Abderrahmane BOULARAS - Soutenance en cours de traitement

Adresse Professionnelle
118, route de Narbonne 31062
Toulouse cedex 9 FRANCE
boularas@laplace.univ-tlse.fr
En recherche d'emploi
Disponibilité : novembre 2014
Mobilité : Tous les pays - Europe et Amérique du nord

Expérience professionnelle :
En recherche d'emploi depuis le 1 septembre 2014

Doctorat Génie Electrique

Thèse soutenue le 13 mai 2015 - Université de Toulouse

Ecole doctorale : GEETS - Génie Electrique Electronique,Télécommunications et Santé : du système au nanosystème

Sujet : Modélisation multidimensionnelle des interactions électrostatiques pointe/diélectrique en microscopie à champ proche.

Mots-clés de la thèse : Electrostatique,Modélisation,Micrroscope a Force Atomique AFM,Méthode des Volumes Finis,Courbe de force,Modélisation Comsol

Direction de thèse : Gilbert TEYSSEDRE

Co-encadrement de thèse : Stéphane CLAIN

Unité de recherche : LAPLACE - Laboratoire PLAsma et Conversion d'Énergie UMR 5213 - Toulouse
Intitulé de l'équipe : DSF - Groupe Diélectriques Solides et Fiabilité

Diplôme national de master - M2R Génie électrique

obtenu en juillet 2011 - UPS
Option : Génie électrique

Production scientifique

- Abderrahmane Boularas, Fulbert Baudoin, Gilbert Teyssedre, Christina Villeneuve-Faure, Stéphane Clain 2014. 3D modelling of electrostatic force distance curve between the AFM probe and dielectric surface Societe Française d'Electrostatique SFE, ,
- A. Boularas, F. Baudoin, C. Villeneuve-Faure, S. Clain, and G. Teyssedre 2014. Multi-dimensional modelling of electrostatic force distance curve over dielectric surface: Influence of tip geometry and correlation with experiment Jornal of Applied Physics , 116 , http://dx.doi.org/10.1063/1.4894147
- A. Boularas, F. Baudoin, G. Teyssedre, C. Villeneuve-Faure, S. Clain 2012. 2D modelling of electrostatic forces-distance curve acting on atomic force microscopy tip and dielectric sample ICEL, ,
- A. Boularas F. Baudoin G. Teyssedre C. Villeneuve-Faure S. Clain 2012. Multi-dimensional modelling of electrostatic forces between atomic force microscopy tip and dielectric surface Solid Dielectrics (ICSD), 2013 , ,

Langues Vivantes : Anglais C1 - Avancé - Français C2 - Courant - Arabe C2 - Maternel

Dernière mise à jour le 26 mars 2015