Soutenance de thèse de Donatien MARTINEAU
Caractérisation par MET et microscopie ionique de composants électroniques de puissance soumis à des tests de fatigue accélérée.
| Ecole Doctorale : |
SDM - SCIENCES DE LA MATIERE - Toulouse |
| Spécialité : | Physique de la Matière |
| Etablissement : | Institut National des Sciences Appliquées de Toulouse |
| Unité de recherche : | UPR 8011 - CEMES - Centre d'Elaboration de Matériaux et d'Etudes Structurales |
| Direction de thèse : | Marc LEGROS
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| Co-encadrement de thèse : | Colette LEVADE
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Cette soutenance
a eu lieu jeudi 17 mars 2011 à
10h00Adresse de la soutenance : CEMES CNRS 29 rue Jeanne Marvig
31055 TOULOUSE - salle salle de conférence
devant le jury composé de :
| Colette LEVADE |
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Docteur d'état |
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CEMES CNRS Toulouse |
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Directeur de thèse |
| Marc LEGROS |
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Titulaire HDR |
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CEMES CNRS Toulouse |
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CoDirecteur de thèse |
| Jean-Marie DORKEL |
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Professeur |
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INSA Université de Toulouse |
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Examinateur |
| Philippe DUPUY |
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Docteur ingénieur |
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FREESCALE Semi conductor Toulouse |
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Examinateur |
| Mauro CIAPPA |
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Professeur |
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Laboratoire de Zurich (Suisse) |
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Rapporteur |
| Stéphane LEFEBRE |
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Professeur |
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SATIE Cachan |
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Rapporteur |
| Zoubir KATIR |
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Directeur de recherche |
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LTN-Satory Versailles |
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Examinateur |
| LHOMMEAU TONY |
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Docteur |
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SAFRAN POWER Moissy Cramayel |
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Examinateur |