M. David MARTROU
HDR

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david.martrou@cemes.fr

UPR 8011 - CEMES - Centre d'Elaboration de Matériaux et d'Etudes Structurales
Equipe : GNS - Nanosciences

Encadrement :

• 5 thèses soutenues / soutenances à venir

Hamza ICHOU -
Compétences :
- Programmation Python.
- Calcul DFT.

Savoir faire :
-NC AFM/KPFM
-MBE
-RHEED

En recherche d'emploi

Spécialité : Nanophysique

Sujet de thèse : Vers des nano-électrodes sur semi-conducteurs grand gap. Graphène/SiC, silicene/graphène/SiC et Au/AlN/SiC. Epitaxie et caractérisation NC-AFM/KPFM.

Mot-clés : Epitaxiale graphene,Or sur AlN,Electronique moléculaire,Silicene,Croissance EJM,NC-AFM KPFM,

Profil mis à jour le 05 juillet 2022                    

Mohanad ALCHAAR -
Spécialité : Nanophysique

Sujet de thèse : Confinement et transfert de charges dans les systèmes îlots Au/AlN et îlots graphène/SiC.

Mot-clés : Nitrure d’aluminium,nano-îlots métalliques,transfert de charges électriques,graphène,microscopie à force atomique en mode non contact. microscopie à sonde Kelvin,épitaxie par jets moléculaire.,

Profil mis à jour le 02 novembre 2020  

Florian CHAUMETON -
En recherche d'emploi Spécialité : Nanophysique

Sujet de thèse : Croissance par épitaxie par jets moléculaires de films de nitrure d'aluminium sur substrats de silicium et de carbure de silicium étudiés par microscopie à force atomique en mode non contact et par microscopie à sonde de Kelvin sous ultra vide.

Mot-clés : Épitaxie par jets moléculaire,Microscope à force atomique en mode non contact,Microscope à sonde de kelvin,nitrure d'aluminium,Ultra-vide,

Profil mis à jour le 03 mars 2015  

Audrey BODIN -
Expérience professionnelle

Spécialité : Physique de la Matière

Sujet de thèse : Un dispositif de filtre en énergie couplé à un spectromètre de masse quadrupolaire pour le dépôt d'ions moléculaires sur des surfaces isolantes avec énergie contrôlée

Mot-clés : Spectromètre de masse,Soft landing,Secteur électrostatique,Dépôt d'ions,Microscopie NC-AFM et KPFM,Surface isolantes

Profil mis à jour le Jeudi 27 juin 2013

Antoine HINAUT -
Compétences :
techniques caractérisation de surface (RHEED, LEED, Auger)
Spectrométrie de masse


Savoir faire :
Microscopie champ proche
Microscopie à force atomique
Microscopie à force atomique en mode non contact
Ultra haut vide
préparation d'échantillons

Mobilité géographique : Europe

Expérience professionnelle
Employeur : universite de Bale - Bale (Suisse) - SUISSE
Fonction : Universite de Bale

Spécialité : Nanophysique

Sujet de thèse : Etude par Microscopie à Force Atomique en Mode Non Contact et par Microscopie à Sonde de Kelvin de Dérivés du Triphénylène sur KBr (001) dans l’Ultra Vide

Mot-clés : force atomique,kelvin,surface,isolant,microscopie,ultra vide

Profil mis à jour le Mardi 6 décembre 2011