Menouar AZIB (AZIB) - Soutenance en cours de traitement

Adresse Professionnelle
Laboratoire LAPLACE 118, route de Narbonne 31062
TOULOUSE CEDEX 9 FRANCE
azib@laplace.univ-tlse.fr
am_azib@esi.dz

Projet professionnel :

chercheur en entreprise, R&D du secteur privé
développeur

Techniques maîtrisées :
Langages: C/C++, Python, Java, Fortran, ADA, Julia, Matlab, Scilab, R Frameworks: TensorFLow, Keras, Scikit-Learn, Scipy, Numpy, Matplotlib, MIDACO Logiciels: Eclipse, CPLEX, COMSOL, GIT, SolidWorks Web PHP, NodeJS, HTML5, CSS3, Javascript, jQuery, ReactJS, Bootstrap Mobile Android, IOS, ReactNative, Cordova, PhoneGap, jQuery Mobile Base de données}{PostGres (SQL 92), MySQL OS Windows, Linux, Mac

Expérience professionnelle :
CDD du 1 octobre 2015 au 30 septembre 2018
Domaine d'activité : Enseignement et recherche
Type de contrat : Administrations (ministères, collectivités territoriales, agences, secteur hospitalier…)
Fonction exercée : Doctorant
Unité de recherche ou entreprise : LAPLACE
Toulouse - FRANCE

Doctorat Génie Electrique

Thèse soutenue le 28 mai 2019 - Institut National des Sciences Appliquées de Toulouse

Ecole doctorale : GEETS - Génie Electrique Electronique,Télécommunications et Santé : du système au nanosystème

Sujet : Modélisation inverse pour une localisation nanométrique tridimensionnelle des charges électrostatiques dans des diélectriques minces

Mots-clés de la thèse : Modélisation éléments finis,Modélisation inverse,Charge d'espace,Optimisation,AFM,Courbe de force

Direction de thèse : Fulbert BAUDOIN

Co-direction de thèse : Nicolas BINAUD

Unité de recherche : LAPLACE - Laboratoire PLAsma et Conversion d'Énergie UMR 5213 - Toulouse
Intitulé de l'équipe : DSF - Groupe Diélectriques Solides et Fiabilité

Master Européen - Master 2 Recherche - Informatique et Télécommunications

obtenu en novembre 2015 - ENAC
Option : Recherche operationnelle

Production scientifique

- M Azib, F Baudoin, N Binaud, C Villeneuve-Faure, F Bugarin, S Segonds and G Teyssedre 2018. Numerical simulations for quantitative analysis of electrostatic interaction between atomic force microscopy probe and an embedded electrode within a thin dielectric: meshing optimization, sensitivity to potential distribution and impact of cantilever contribution Journal of Physics D, 10 pages, http://iopscience.iop.org/article/10.1088/1361-6463/aab286/meta
- M. Azib ; F. Baudoin ; C. Villeneuve-Faure ; G. Teyssedre ; N. Binaud ; F. Bugarin ; S. Segonds 2018. Numerical Simulations for Sensitivity Analysis of the Electrostatic Force Curve on Charge Localization in 3D 2018 IEEE 2nd International Conference on Dielectrics (ICD), 4, https://ieeexplore.ieee.org/document/8468413
- M. Azib ; F. Baudoin ; C. Villeneuve-Faure ; G. Teyssedre ; N. Binaud ; F. Bugarin ; S. Segonds 2018. Sensitivity analysis of the electrostatic interaction between the Atomic Force Microscopy probe and a thin dielectric film with 3D-localized charge cloud Journal of Applied Physics, 15,

Langues Vivantes : Anglais C2 - Courant - Arabe C2 - Courant - Français C2 - Courant - Berbère C2 - Maternel

Dernière mise à jour le 6 mai 2019